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二次離子/濺射中性粒子質譜儀

描述：The Hiden MAXIM quadrupole SIMS analyser is a state of the art secondary ion mass spectrometer for positive and negative, static, dynamic and neutral analytical applications.

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MAXIM 二次離子濺射中性粒子質譜儀可分析二次陰、陽離子動態和中性粒子，所具備的的30°接受角可形成樣品粒子平面，應用于SIMS和SNMS的光學采樣。

·光柵控制，增強深度分析能力
·所有能量范圍內，離子行程的最小擾動，及恒定離子傳輸
·靈敏度高 / 穩定的脈沖離子計數檢測器

·質量數范圍： 300amu，500amu，1000amu

·檢測器：離子計數探測器、正負離子探測器、10⁷cps

·質量過濾器： 3F四級桿

·桿直徑： 9mm

·最高加熱： 250℃

·離子源：電子轟擊，可用于SNMS和RGA的單根燈絲

MAXIM - Quadrupole SIMS Analyser (562 KB)

AP0088 - Metal-Carbon Composites and Multilayer Thin Films Prepared by Plasma Assisted Sequential Deposition (293 KB)

AP0128 - Magnesium Nitride Phase Formation Through New Ion Beam Implantation Technique (406 KB)

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